ION CHANNELING EFFECTS IN SCANNING ION MICROSCOPY WITH A 60 KEV GA+ PROBE

被引：49

作者：

LEVISETTI, R ^{[1
]}

FOX, TR ^{[1
]}

LAM, K ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CHICAGO,DEPT PHYS,CHICAGO,IL 60637

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH | 1983年 / 205卷 / 1-2期

关键词：

D O I：

10.1016/0167-5087(83)90201-6

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：299 / 309

页数：11

共 30 条

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