ERROR RATES OF DIGITAL SIGNALS IN CHARGE-TRANSFER DEVICES

被引:4
作者
THORNBER, KK [1 ]
机构
[1] BELL TEL LABS INC, UNIPOLAR INTEGRATED CIRCUIT LAB, NEW YORK, NY 10000 USA
来源
BELL SYSTEM TECHNICAL JOURNAL | 1973年 / 52卷 / 10期
关键词
D O I
10.1002/j.1538-7305.1973.tb02708.x
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:1795 / 1809
页数:15
相关论文
共 12 条
[1]  
BERGLUND CN, 1973, AT&T TECH J, V52, P147
[2]  
BERGLUND CN, 1971, IEEE J SOLID-ST CIRC, VSC6, P391
[3]  
BERGLUND CN, 1973, IEEE J SOLID-ST CIRC, VSC18, P108
[4]  
BOONSTRA L, 1972, 1972 IEEE SOL STAT C, V15, P140
[5]  
CARNES JE, 1972, RCA REV, V33, P327
[6]  
JOYCE WB, 1971, AT&T TECH J, V50, P1741
[7]  
THORNBER KK, IN PRESS
[8]  
THORNBER KK, P IEEE, V60, P1113
[9]  
THORNBER KK, 1973, AT&T TECH J, V52, P1453
[10]  
THORNBER KK, 1973, IEEE T ELECTRON DEV, VED20, P456