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INFRARED INTENSITY MEASUREMENTS OF CRYODEPOSITED THIN-FILMS OF NH3, NH4HS, H2S, AND ASSIGNMENTS OF ABSORPTION-BANDS
被引:59
作者
:
FERRARO, JR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
ARGONNE NATL LAB,DIV CHEM,ARGONNE,IL 60439
FERRARO, JR
SILL, G
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机构:
ARGONNE NATL LAB,DIV CHEM,ARGONNE,IL 60439
SILL, G
FINK, U
论文数:
0
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0
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0
机构:
ARGONNE NATL LAB,DIV CHEM,ARGONNE,IL 60439
FINK, U
机构
:
[1]
ARGONNE NATL LAB,DIV CHEM,ARGONNE,IL 60439
[2]
UNIV ARIZONA,LUNAR & PLANETARY LAB,TUCSON,AZ 85721
来源
:
APPLIED SPECTROSCOPY
|
1980年
/ 34卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1366/0003702804731339
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
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页码:525 / 533
页数:9
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