ELECTRON PROBE MICROANALYSIS ON ELECTRON MICROSCOPE THIN FOILS USING THIN STANDARDS

被引：14

作者：

PHILIBERT, J

RIVORY, J

BRYCKAERT, D

TIXIER, R

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3727/3/11/103

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：L70 / +

页数：1

共 11 条

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