SCANNING TUNNELING MICROSCOPE STUDY OF MICROCRYSTALLINE SILICON SURFACES IN AIR

被引：18

作者：

TANAKA, I ^{[1
]}

OSAKA, F ^{[1
]}

KATO, T ^{[1
]}

KATAYAMA, Y ^{[1
]}

MURAMATSU, S ^{[1
]}

SHIMADA, T ^{[1
]}

机构：

[1] HITACHI LTD,CENT RES LAB,KOKUBUNJI,TOKYO 185,JAPAN

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.100941

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：427 / 429

页数：3

共 5 条

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