共 2 条
NEW TECHNIQUE FOR DIRECT MEASUREMENT OF Y-PARAMETERS AT MICROWAVE-FREQUENCIES
被引:3
作者:
KOTZEBUE, KL
[1
]
机构:
[1] UNIV CALIF SANTA BARBARA,DEPT ELECT ENGN & COMP SCI,SANTA BARBARA,CA 93106
关键词:
D O I:
10.1109/TIM.1977.4314509
中图分类号:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号:
0808 ;
0809 ;
摘要:
引用
收藏
页码:119 / 123
页数:5
相关论文