The observation of crystalline reflections in electron microscope images

被引：20

作者：

Hillier, J ^{[1
]}

Baker, RF ^{[1
]}

机构：

[1] RCA Mfg Co Inc, Camden, NJ USA

来源：

PHYSICAL REVIEW | 1942年 / 61卷 / 11/12期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRev.61.722

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

收藏

页码：722 / 723

页数：2

相关论文

共 2 条

[1] On the occurrence of blackening lines at the electron microscopic imaging of crystalline lamellae
von Ardenne, Manfred
[J]. ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1940, 116 (11-12): : 736 - 738
[2] VONBORRIES B, 1940, NATURWISSENSCHAFTEN, V28, P366