ELECTRICAL PERFORMANCE OF HIGH-DENSITY PROBE ARRAY FOR TESTING JOSEPHSON CIRCUIT CHIPS

被引：4

作者：

MOSKOWITZ, PA

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS | 1981年 / 17卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TMAG.1981.1060942

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：761 / 763

页数：3

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共 4 条

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