MEASUREMENT OF ION SHEATH THICKNESS USING THE DOUBLE PROBE WITH FIXED POTENTIAL

被引：1

作者：

SUGAWARA, M

HATTA, Y

机构：

来源：

JOURNAL OF THE PHYSICAL SOCIETY OF JAPAN | 1959年 / 14卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1143/JPSJ.14.1091

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：1091 / 1093

页数：3

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共 4 条

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