NATURAL LINEWIDTH EFFECTS IN GAMMA-RAY AND X-RAY-EMISSION RATE MEASUREMENTS WITH SEMICONDUCTOR-DETECTORS

被引：21

作者：

DEBERTIN, K

PESSARA, W

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1981年 / 184卷 / 2-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(81)90753-9

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：497 / 503

页数：7

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共 4 条

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DEBERTIN, K .

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