A NEW DEVICE FOR MEASURING THICKNESS OF EVAPORATED METAL FILM BY USE OF X-RAY INTERFERENCE FRINGES

被引：2

作者：

FUJIKI, Y

YOSHIDA, T

机构：

来源：

JOURNAL OF THE PHYSICAL SOCIETY OF JAPAN | 1959年 / 14卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1143/JPSJ.14.1828

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：1828 / 1828

页数：1

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共 2 条

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