SIMPLIFICATION OF BASE FAILURE RATE MODELS

被引：2

作者：

BORA, JS

BABAR, AK

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1980年 / 20卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(80)90605-8

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：535 / 535

页数：1

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共 5 条

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