DEGRADATION OF INSULATING MATERIALS, INCLUDING SIO2 DUE TO SF6 GAS DISSOCIATION PRODUCTS

被引：12

作者：

SUZUKI, T

NAKAYAMA, S

YOSHIMITSU, T

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1980年 / 15卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TEI.1980.298296

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：53 / 58

页数：6

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共 3 条

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