EFFECT OF THIN-FILM THICKNESS ON ABELES-TYPE INDEX MEASUREMENTS

被引：9

作者：

BURNS, WK ^{[1
]}

LEE, AB ^{[1
]}

机构：

[1] USN, RES LAB, WASHINGTON, DC 20375 USA

来源：

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA | 1974年 / 64卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.64.000108

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：108 / 109

页数：2

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