ON TESTING METHODOLOGY OF THERMOSETTING DIELECTRICS SUBJECTED TO PARTIAL DISCHARGES - EFFECT OF TEMPERATURE

被引：6

作者：

CAMPOCCIA, A

SCHIFANI, R

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1988年 / 23卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/14.2382

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：419 / 426

页数：8

共 14 条

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