COMPLETELY AUTOMATED METHOD FOR MEASURING MAGNETIC AFTEREFFECT IN FERROMAGNETIC CRYSTALS

被引：103

作者：

WALZ, F ^{[1
]}

机构：

[1] MAX PLANCK INST MET FORSCH,INST PHYS,D-7000 STUTTGART 1,WEST GERMANY

来源：

APPLIED PHYSICS | 1974年 / 3卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1007/BF00887281

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：313 / 319

页数：7

共 11 条

[1] BITTERLICH W, 1967, ELEKTRONIK
[2] FELDKELLER R, 1958, SPULEN UBERTRAGER
[3] GERSTNER D, 1961, Z METALLKD, V52, P426
[4] Kronmuller H., 1968, NACHWIRKUNG FERROMAG
[5] SCHRODER H, 1966, ELEKTRISCHE NACHRICH, V1
[6] SEEGER A, 1965, Z ANGEW PHYSIK, V18, P377
[7] SEEGER A, 1967, MAGNETISMUS STRUKTUR
[8] SHEA RF, 1967, TRANSISTORANWENDUNGE
[9] AUTOMATED MEASURING METHOD FOR DETERMINATION OF MAGNETIC SECONDARY EFFECT IN FERROMAGNETICS
WALZ, F
[J]. PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH, 1971, 8 (01): : 125 - &
[10] WALZ F, 1968, THESIS U STUTTGART