CHROMATIC ABERRATION EFFECTS IN SMALL ELECTRON PROBES

被引：14

作者：

SHAO, ZF ^{[1
]}

CREWE, AV ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CHICAGO,ENRICO FERMI INST,CHICAGO,IL 60637

来源：

ULTRAMICROSCOPY | 1987年 / 23卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(87)90162-8

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：169 / 174

页数：6

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共 2 条

[1]

BORN M, 1980, PRINCIPLES OPTICS, P206

[2] ON THE OPTIMUM RESOLUTION FOR A CORRECTED STEM [J].

CREWE, AV ;

SALZMAN, DB .

ULTRAMICROSCOPY, 1982, 9 (04) :373-377