REFLECTION ZERNIKE PHASE-CONTRAST MICROSCOPE

被引：3

作者：

KONG, XG

FENG, TS

JIN, GF

机构：

[1] Tsinghua University, Department of Precision Instruments, Beijing

来源：

APPLIED OPTICS | 1990年 / 29卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.29.001408

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

A novel configuration for a reflection Zernike phase contrast microscope is given that has a height sensitivity of 0.5 Å. © 1990 Optical Society of America.

引用

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页码：1408 / 1409

页数：2

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共 2 条

[1]

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