IMAGING IN SCANNING MICROSCOPES

被引：28

作者：

CREWE, AV ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CHICAGO,ENRICO FERMI INST,CHICAGO,IL 60637

来源：

ULTRAMICROSCOPY | 1980年 / 5卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(80)90018-2

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：131 / 138

页数：8

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共 4 条

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