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- [1] K X-RAY EMISSION SPECTRA FROM SILICON AND SILICON COMPOUNDS [J]. SPECTROCHIMICA ACTA, 1965, 21 (09): : 1471 - &
- [2] COTTON FA, 1964, CHEMICAL APPLICATION
- [4] FISCHER DW, 1967, NORELCO REP, V14, P92
- [5] JAFFE HH, 1956, J CHEM EDUC, V33, P25
- [6] LUKIRSKII AP, 1964, SOV PHYS-SOL STATE, V6, P33
- [7] OBRIEN CHM, 1940, P ROY SOC LOND A MAT, V176, P229
- [8] PLASMON SATELLITES OF SOFT X-RAY EMISSION SPECTRA [J]. PHYSICS LETTERS, 1963, 3 (05): : 234 - 236
- [9] ZUR RONTGENFLUORESZENZANALYSE .1. DIE INTENSITATSVERHALTNISSE DER K-LINIEN DES RONTGENSPEKTRUMS VON CHLOR IN ABHANGIGKEIT VON DER CHEMISCHEN BINDUNG [J]. MONATSHEFTE FUR CHEMIE, 1962, 93 (06): : 1383 - &
- [10] ZUR RONTGENFLUORESZENZANALYSE .3. DIE ANDERUNG DER RELATIVEN INTENSITATEN DER KBETA-STRAHLUNG DER ELEMENTE SCHWEFEL, PHOSPHOR, SILICIUM UND ALUMINIUM BEI VERBINDUNGSBILDUNG [J]. MONATSHEFTE FUR CHEMIE, 1963, 94 (04): : 703 - &