CRITERION FOR DETERMINING ORIGIN OF OHMIC CURRENTS IN INSULATORS

被引：13

作者：

SCHER, H ^{[1
]}

PAI, D ^{[1
]}

MORT, J ^{[1
]}

机构：

[1] XEROX CORP,RES LAB,ROCHESTER,NY 14644

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1662674

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：2908 / 2909

页数：2

共 7 条

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[7]

SCHARFE ME, PRIVATE COMMUNICATIO