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MUNCH J, IN PRESS APPLIED OPT
MICHELSON INTERFEROMETER WITH A HOLOGRAPHIC MEMORY FOR MEASURING FIDELITY OF ABERRATED PHASE CONJUGATED BEAMS
被引：4
作者：
MUNCH, J
WUERKER, RF
LEFEBVRE, MJ
机构：
来源：
APPLIED OPTICS
|
1989年
/
28卷
/
09期
关键词：
D O I：
10.1364/AO.28.001731
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ;
0803 ;
摘要：
引用
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页码：1731 / 1733
页数：3
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