CALCULATOR FOR THIN FILM MEASUREMENTS

被引：1

作者：

FEIBELMAN, WA

机构：

来源：

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA | 1956年 / 46卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.46.000994

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：994 / 995

页数：2

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共 2 条

[1] THE THICKNESS MEASUREMENT OF THIN FILMS BY MULTIPLE BEAM INTERFEROMETRY [J].

SCOTT, GD ;

MCLAUCHLAN, TA ;

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