OBTAINING LOW ORDERS OF INTERFERENCE IN MEASURING FILM THICKNESSES BY MULTIPLE BEAM INTERFEROMETRY

被引：6

作者：

SCOTT, GD

机构：

来源：

JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA | 1958年 / 48卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/JOSA.48.000858

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：858 / 858

页数：1

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共 3 条

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