INFLUENCE OF DEPTH OF INFORMATION AND OF RESOLUTION IN STEREOLOGIC EVALUATION OF SURFACE ELECTRON MICROGRAPHS

被引：10

作者：

BODE, M

SCHUR, K

WEGMANN, L

PFEFFERK.G

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1972年 / 95卷 / APR期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1972.tb03731.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：323 / &

共 12 条

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