EXPERIMENTAL-DETERMINATION OF SCAN-TRUNCATION LOSSES FROM LOW-TEMPERATURE (16-K) SINGLE-CRYSTAL X-RAY MEASUREMENTS

被引：24

作者：

DESTRO, R ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV MILAN,CTR CNR,I-20133 MILANO,ITALY

来源：

AUSTRALIAN JOURNAL OF PHYSICS | 1988年 / 41卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1071/PH880503

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：503 / 510

页数：8

共 7 条

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