X-RAY CHARACTERIZATION OF THE ANISOTROPY PROPERTIES OF THIN-FILMS

被引：1

作者：

BALESTRINO, G

LAGOMARSINO, S

SCARINCI, F

TUCCIARONE, A

MASTROGIACOMO, L

机构：

[1] Laboratorio di Elettronica dello Stato Solido del C.N.R., Roma, 00156

来源：

LETTERE AL NUOVO CIMENTO | 1979年 / 24卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1007/BF02725741

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

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