MINIMAL MAINTENANCE PROBE FOR PRECISE RESISTIVITY MEASUREMENT OF SEMICONDUCTORS

被引：7

作者：

PAULNACK, CL

CHAPLIN, NJ

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1962年 / 33卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1718001

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：873 / &

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共 1 条

[1] RESISTIVITY MEASUREMENTS ON GERMANIUM FOR TRANSISTORS [J].

VALDES, LB .

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF RADIO ENGINEERS, 1954, 42 (02) :420-427