学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
OPTICAL-DETECTION OF CHARGE MODULATION IN SILICON INTEGRATED-CIRCUITS USING A MULTIMODE LASER-DIODE PROBE
被引:17
作者
:
HEMENWAY, BR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEMENWAY, BR
HEINRICH, HK
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEINRICH, HK
GOLL, JH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
GOLL, JH
XU, Z
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
XU, Z
BLOOM, DM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BLOOM, DM
机构
:
来源
:
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
|
1987年
/ 8卷
/ 08期
关键词
:
D O I
:
10.1109/EDL.1987.26654
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:344 / 346
页数:3
相关论文
共 3 条
[1]
MEASUREMENT OF REAL-TIME DIGITAL SIGNALS IN A SILICON BIPOLAR JUNCTION TRANSISTOR USING A NONINVASIVE OPTICAL PROBE
[J].
HEINRICH, HK
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEINRICH, HK
;
HEMENWAY, BR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEMENWAY, BR
;
MCGRODDY, KA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MCGRODDY, KA
;
BLOOM, DM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BLOOM, DM
.
ELECTRONICS LETTERS,
1986,
22
(12)
:650
-652
[2]
HEINRICH HK, 1986, APPL PHYS LETT, V48, P1811, DOI 10.1063/1.97040
[3]
NONINVASIVE SHEET CHARGE-DENSITY PROBE FOR INTEGRATED SILICON DEVICES
[J].
HEINRICH, HK
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEINRICH, HK
;
BLOOM, DM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BLOOM, DM
;
HEMENWAY, BR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEMENWAY, BR
.
APPLIED PHYSICS LETTERS,
1986,
48
(16)
:1066
-1068
←
1
→
共 3 条
[1]
MEASUREMENT OF REAL-TIME DIGITAL SIGNALS IN A SILICON BIPOLAR JUNCTION TRANSISTOR USING A NONINVASIVE OPTICAL PROBE
[J].
HEINRICH, HK
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEINRICH, HK
;
HEMENWAY, BR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEMENWAY, BR
;
MCGRODDY, KA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MCGRODDY, KA
;
BLOOM, DM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BLOOM, DM
.
ELECTRONICS LETTERS,
1986,
22
(12)
:650
-652
[2]
HEINRICH HK, 1986, APPL PHYS LETT, V48, P1811, DOI 10.1063/1.97040
[3]
NONINVASIVE SHEET CHARGE-DENSITY PROBE FOR INTEGRATED SILICON DEVICES
[J].
HEINRICH, HK
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEINRICH, HK
;
BLOOM, DM
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BLOOM, DM
;
HEMENWAY, BR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
HEMENWAY, BR
.
APPLIED PHYSICS LETTERS,
1986,
48
(16)
:1066
-1068
←
1
→