INFRARED SCHLIEREN INTERFEROMETER FOR MEASURING ELECTRON-DENSITY PROFILES

被引：26

作者：

KEILMANN, F

机构：

来源：

PLASMA PHYSICS | 1972年 / 14卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1088/0032-1028/14/2/003

中图分类号：

O35 [流体力学]; O53 [等离子体物理学];

学科分类号：

070204 ; 080103 ; 080704 ;

摘要：

引用

页码：111 / &

共 10 条

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