X-RAY-MEASUREMENT OF RESIDUAL-STRESSES IN TEXTURED THIN COATINGS

被引：13

作者：

DEBUYSER, L

VANHOUTTE, P

AERNOUDT, E

机构：

来源：

TEXTURES AND MICROSTRUCTURES | 1991年 / 14卷

关键词：

D O I：

10.1155/TSM.14-18.73

中图分类号：

O7 [晶体学];

学科分类号：

0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;

摘要：

引用

收藏

页码：73 / 78

页数：6

相关论文

共 5 条

[1]

BUNGE HJ, 1982, TEXTURE ANAL MATERIA

[2]

DEBUYSER L, 1990, IN PRESS P TAGUNG EI

[3]

Segmuller A., 1988, TREATISE MAT SCI TEC, V27, P143

[4]

SERRUYS W, 1986, RESIDUAL STRESSES SC

[5]

SERRUYS W, 1988, RONGENGRAFISCH METEN