USE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY TO INVESTIGATE ALUMINUM/SILICON AND IRON/GRAPHITE EUTECTIC SYSTEMS

被引:11
作者
DAY, MG
机构
来源
JOURNAL OF METALS | 1969年 / 21卷 / 04期
关键词
D O I
10.1007/BF03378783
中图分类号
TF [冶金工业];
学科分类号
0806 ;
摘要
引用
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页码:31 / &
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