EXPERIMENTAL-OBSERVATION OF ASYMMETRIC DETUNING CHARACTERISTICS IN SEMICONDUCTOR-LASER INJECTION LOCKING

被引:36
作者
KOBAYASHI, K
NISHIMOTO, H
LANG, R
机构
关键词
D O I
10.1049/el:19820038
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页数:3
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