METHOD FOR SYSTEMATICALLY ANALYZING GE(LI) PHOTOPEAKS

被引：3

作者：

STEYN, JJ

REIER, M

机构：

[1] NUS CORP,ROCKVILLE,MD 20850

[2] JET PROP LAB,PASADENA,CA 91103

来源：

JOURNAL OF RADIOANALYTICAL CHEMISTRY | 1973年 / 15卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1007/BF02514283

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：669 / 673

页数：5

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