GALVANOMAGNETIC MEASUREMENTS IN HIGHLY CONDUCTING SEMICONDUCTORS

被引:6
作者
KURNICK, SW
FITZPATRICK, RL
机构
关键词
D O I
10.1063/1.1717402
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
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页码:452 / &
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共 3 条
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