DEFECTS IN VAPOUR-GROWN SILICON LAYERS

被引：6

作者：

BATSFORD, KO

THOMAS, DJD

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(62)90116-8

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：353 / 354

页数：2

共 7 条

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