WEAK-BEAM OBSERVATION OF DISLOCATION LOOPS IN SILICON

被引：9

作者：

BICKNELL, R ^{[1
]}

机构：

[1] PLESSEY CO LTD,ALLEN CLARK RES CTR,TOWCESTER,NORTHAMPTONSHIR,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1973年 / 98卷 / JUL期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1973.tb03818.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：165 / 169

页数：5

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共 2 条

[1] WEAK BEAM OBSERVATION OF DISLOCATION LOOPS IN SILICON [J].

BICKNELL, RW .

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH, 1971, 7 (01) :K1-&

[2]

HIRSCH PB, 1965, ELECTRON MICROSCOPY