ENERGY FILTERED ELECTRON-MICROSCOPY (EFEM) OF OVERBASED REVERSE MICELLES

被引：32

作者：

MARTIN, JM

MANSOT, JL

HALLOUIS, M

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(89)90061-2

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：321 / 327

页数：7

共 5 条

[1]

EGERTON RF, 1986, EELS ELECTRON MICROS

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