SELECTIVE MICROSCALE X-RAY-FLUORESCENCE ANALYZING METHOD FOR DETERMINATION OF TRACE-ELEMENTS

被引：4

作者：

PUUMALAINEN, P ^{[1
]}

SUOMINEN, P ^{[1
]}

HATTULA, J ^{[1
]}

KALM, H ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV JYVASKYLA, DEPT PHYS, JYVASKYLA, FINLAND

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED RADIATION AND ISOTOPES | 1973年 / 24卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1016/0020-708X(73)90087-2

中图分类号：

TL [原子能技术]; O571 [原子核物理学];

学科分类号：

0827 ; 082701 ;

摘要：

引用

页码：617 / 620

页数：4

共 7 条

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