HOW TO PREVENT CIRCUIT ZAPPING

被引：5

作者：

ANTINONE, RJ

机构：

来源：

IEEE SPECTRUM | 1987年 / 24卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1109/MSPEC.1987.6447968

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：34 / 38

页数：5

相关论文

共 3 条

[1]

ANTINONE RJ, 1986, ELECTRICAL OVERSTRES

[2] DETERMINATION OF THRESHOLD FAILURE LEVELS OF SEMICONDUCTOR DIODES AND TRANSISTORS DUE TO PULSE VOLTAGES [J].

WUNSCH, DC ;

BELL, RR .

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 1968, NS15 (06) :244-+

[3]

1968, IEEE T NUCLEAR S DEC