A precision measurement of the change of wave-length of scattered x-rays

被引：13

作者：

Sharp, HM ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Chicago, Ryerson Lab, Chicago, IL USA

来源：

PHYSICAL REVIEW | 1925年 / 26卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRev.26.691

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：0691 / 0696

页数：6

共 9 条

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