ELECTRON INTERFERENCE METHOD FOR MAGNETIZATION MEASUREMENT OF THIN-FILMS

被引：35

作者：

TONOMURA, A

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.11.493

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：493 / &

共 17 条

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