Dependence of Compton line breadth on primary wave-length with the multi-crystal spectrograph

被引：12

作者：

DuMond, JWM ^{[1
]}

Kirkpatrick, HA ^{[1
]}

机构：

[1] Calif Inst Technol, Pasadena, CA USA

来源：

PHYSICAL REVIEW | 1931年 / 38卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRev.38.1094

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：1094 / 1108

页数：15

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共 2 条

[1] The multiple crystal x-ray spectrograph [J].

DuMond, JWM ;

Kirkpatrick, HA .

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1930, 1 (02) :88-105

[2] Experimental evidence for electron velocities as the cause of Compton line breadth with the multicrystal spectrograph [J].

DuMond, JWM ;

Kirkpatrick, HA .

PHYSICAL REVIEW, 1931, 37 (02) :136-159