COMMENTS ON A SECONDARY-EMISSION ANALOG FOR IMPROVED AUGER SPECTROSCOPY WITH RETARDING POTENTIAL ANALYZERS

被引：6

作者：

ABBATI, I

BRAICOVICH, L

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1972年 / 43卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1685837

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

收藏

页码：1054 / +

页数：1

相关论文

共 2 条

[1] A MULTICHANNEL MONITOR FOR REPETITIVE AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY WITH APPLICATION TO SURFACE COMPOSITION CHANGES
SICKAFUS, EN
COLVIN, AD
[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1970, 41 (09) : 1349 - &
[2] INSTRUMENTAL EFFECTS OF RETARDING GRIDS IN A LEED APPARATUS
WEI, PSP
CHO, AY
CALDWELL, CW
[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1969, 40 (08) : 1075 - &