THE PROJECTION TOPOGRAPH - A NEW METHOD IN X-RAY DIFFRACTION MICRORADIOGRAPHY

被引：464

作者：

LANG, AR

机构：

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA | 1959年 / 12卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1107/S0365110X59000706

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

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页码：249 / 250

页数：2

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共 3 条

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