SINGLE ELECTROMETER METHOD OF MEASURING TRANSPORT PROPERTIES OF HIGH-RESISTIVITY SEMICONDUCTORS

被引：7

作者：

BALESHTA, TM

KEYS, JD

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1119/1.1974402

中图分类号：

G40 [教育学];

学科分类号：

040101 ; 120403 ;

摘要：

引用

页码：23 / &

共 5 条

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