MARGINALITY, UNIVERSALITY, AND EXPANSION TECHNIQUES FOR CRITICAL LINES IN 2 DIMENSIONS

被引:14
作者
PRUISKEN, AMM [1 ]
KADANOFF, LP [1 ]
机构
[1] UNIV CHICAGO,JAMES FRANCK INST,CHICAGO,IL 60637
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1980年 / 22卷 / 11期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.22.5154
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:5154 / 5170
页数:17
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