IMPROVED PROBE APPARATUS FOR MEASURING CONTACT RESISTANCE

被引：1

作者：

CHAIKIN, SW

ANDERSON, JR

SANTOS, GJ

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1961年 / 32卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1717236

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：1294 / &

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共 3 条

[1] BERL WG, PMCA, V2, P155
[2] CONTACT RESISTANCE MEASUREMENTS AT LOW LOADS
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