ELECTRON RADIATION DAMAGE EFFECTS IN SILICON SURFACE-BARRIER DETECTORS

被引：8

作者：

LIU, YM

COLEMAN, JA

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1971.4325863

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：192 / &

共 10 条

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[No title captured]