CONTENT-ADDRESSABLE MEMORY FOR VLSI PATTERN INSPECTION

被引：6

作者：

CHAE, SI

WALKER, JT

FU, CC

PEASE, RF

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/4.259

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：74 / 78

页数：5

共 14 条

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